微波介电常数测试仪介绍

时间:2020-12-02浏览量：0

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　　介电常数测试仪简介：

　　微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。

　　AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔。

　　介电常数测试仪技术参数：

　　频率范围：1G~20GHz

　　同轴共振腔：

　　介电常数Epsilon：1~15，准确度：+/-1%，

　　介电损耗tangent delta：0.05~0.0001，准确度：+/-5%

　　介电常数测试仪主要特点：

　　空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。

　　印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

　　针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置,只需裁成小长条状即可量测精确的复介电常数(Dk), 尤其是低损耗(Df)的样品, 测量值非常精准。

　　用于介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。