阻抗分析仪测试治具探头
时间:2021-03-15浏览量：0
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阻抗分析仪测试治具探头L2000日本日置这个产品怎么样?哪家价格好?
公司长期现货供应阻抗分析仪测试治具探头L2000日本日置HIOKI，原装正品，假一罚十。
用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容)
● 适用于离子运动和溶液电阻测量，1mHz ～ 200kHz的宽范围信号源
● 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查
● 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻
● zui快2ms的高速测量，实现扫描测量的高速化
● 基本精度±0.05%，零件检查到研究开发测量均可对应
● 适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量
注：主机不带测试治具。请从选件中选择测试治具和探头。
RS-232C用连接线可使用普通的对应联锁的交叉线。RS-232C连接线9637仅可在不使用硬件流程控制时使用。
基本参数
| 测量模式 | LCR模式，连续测量（LCR/分析），分析模式（频率或电平扫描，温度特性，等效回路分析） |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (直流电阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, T, σ (导电率), ε (介电常数) |
| 测量量程 | 100mΩ～100MΩ, 10档量程 (所有参数均由Z规定) |
| 显示范围 |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, σ, ε : ± (0.000000 [単位]～9.999999G [单位]) 仅Z和Y为值显示 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.000000～9.999999) Q: ± (0.00～99999.99), Δ%: ± (0.0000%～999.9999%) T: -10.0℃～99.9℃ |
| 基本精度 | Z: ±0.05% rdg. θ: ±0.03° |
| 测量频率 | 1 mHz～200 kHz (1 mHz～10 Hz步进) |
| 测量信号电平 |
普通模式： V模式，CV模式：5 mV～5 V rms，1 mV rms步进 CC模式：10 μA～50 mA rms，10 μA rms步进 低阻抗高精度模式： V模式，CV模式：5 mV～2.5 V rms, 1 mV rms步进 CC模式：10 μA～100 mA rms, 10 μA rms步进 |
| 输出电阻 | 普通模式：100 Ω，低电阻高精度模式：25 Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF |
| 测量时间 | 2ms（1kHz，FAST，显示屏OFF，代表值） |
| 功能 | DC偏压测量，直流电阻温度补偿（标准温度换算显示），温度测量，电池测量（自动DC偏压外加方法），BIN测量（分类功能），面板读取·保存，存储功能 |
| 接口 |
EXT I/O（处理器），USB通讯，USB存储 选件：可安装RS-232C/GP-IB/LAN其中之一 |
| 电源 | AC 100～240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 | 330W × 119H × 168D mm, 3.1 kg |
| 附件 | 电源线×1，使用说明书×1，CD-R（通讯说明书，使用软件）×1 |
探头和测试治具
当使用9268-10或9269-10时，需要外接恒压和恒流源。
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